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- 200 1_ |a 可靠性物理 |9 ke kao xing wu li |f 姚立真编著
- 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2004
- 215 __ |a 21,669页 |c 图 |d 24cm
- 225 2_ |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书
- 330 __ |a 全书分为四部分。阐述了电子元器件失效分析中的理论基础;论述了失效的物理模型;介绍了元器件静电放电失效的原理和防护,元器件的辐射效应和抗辐射加固技术等内容。
- 461 _0 |1 2001 |a 电子元器件质量与可靠性技术丛书
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