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• 000 01064nam0 2200253 450

• 001 0000290449

• 005 20160623151800.0

• 010 __ |a 978-7-5024-5511-8 |d CNY32.00

• 100 __ |a 20110629d2011 em y0chiy50 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电阻率测试理论与实践 |A Dian Zu Lv Ce Shi Li Lun Yu Shi Jian |f 孙以材，汪鹏，孟庆浩著

• 210 __ |a 北京 |c 冶金工业出版社 |d 2011

• 215 __ |a 307页 |d 21cm

• 330 __ |a 本书以电阻率测量中广泛使用的探针技术为对象，以作者多年的相应测试实践对电阻率测试中许多理论问题作了深入探讨，具体包括：四探针法电阻率测量基本原理、静电场数值计算有限元方法、范德堡法及其改进法电阻率测量基本原理、鲁美采夫斯基法及其改进法电阻率测量基本原理、电阻率Mapping技术、电阻牢测试的EIT技术、外延片的电阻率测试、接触电阻的测量、电阻率测试的测准条件。

• 606 0_ |a 电阻率 |A Dian Zu Lv |x 测试

• 690 __ |a O441.1 |v 4

• 701 _0 |a 孙以材 |A Sun Yi Cai |4 著

• 701 _0 |a 汪鹏 |A Wang Peng |4 著

• 701 _0 |a 孟庆浩 |A Meng Qing Hao |4 著

• 801 _0 |a CN |b DQNU |c 20160622

• 905 __ |a DQNU |d O441.1/S96 |s 3