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• 200 1_ |a 一板成功 |b 专著 |e 高速电路研发与设计典型故障案例解析 |f 张晶威编著 |A yi ban cheng gong

• 210 __ |a 北京 |c 清华大学出版社 |d 2022

• 215 __ |a 127页 |c 图 |d 24cm

• 330 __ |a 本书从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案，内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。

• 517 1_ |a 高速电路研发与设计典型故障案例解析 |A Gao Su Dian Lu Yan Fa Yu She Ji Dian Xing Gu Zhang An Li Jie Xi

• 606 0_ |a 印刷电路 |A Yin Shua Dian Lu |x 电路设计

• 690 __ |a TN410.2 |v 5

• 701 _0 |a 张晶威 |4 编著 |A zhang jing wei

• 801 _0 |a CN |b DQNU |c 20221207

• 905 __ |a DQNU |d TN410.2/Z15 |s 3