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• 200 1_ |a 半导体的检测与分析 |9 ban dao ti de jian ce yu fen xi |f 许振嘉主编

• 205 __ |a 2版

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2007

• 215 __ |a 635页 |d 25cm

• 225 2_ |a 半导体科学与技术丛书

• 300 __ |a 中国科学院科学出版基金资助出版

• 330 __ |a 本书共分7章。内容包括：引论，半导体的高分辨X射线衍射，光学监测与分析，表面、薄膜成分分析，扫描探针显微学在半导体中的运用，透射电子显微学及其在半导体中的应用和半导体深中心的表征等。

• 461 _0 |1 2001 |a 半导体科学与技术丛书

• 606 0_ |a 半导体材料 |x 检测 |x 分析

• 690 __ |a TN304.07 |v 4

• 701 _0 |a 许振嘉 |9 xu zhen jia |4 主编

• 801 _0 |a CN |b |c 20080724

• 905 __ |a DQNU |d TN304.07/X92

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