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• 010 __ |a 978-7-121-27232-5 |d CNY88.00

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• 102 __ |a CN |b 110000

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• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 可靠性物理 |b 专著 |f 恩云飞，谢少锋，何小琦编著 |A ke kao xing wu li

• 210 __ |a 北京 |c 电子工业出版社 |d 2015

• 215 __ |a 16,426页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 可靠性技术丛书 |A Ke Kao Xing Ji Shu Cong Shu

• 304 __ |a 工业和信息化部电子第五研究所组编

• 330 __ |a 本书共13章，内容包括：可靠性物理的基本概念、失效物理模型，微电子器件失效机理及数理模型、微波器件失效机理及数理模型、光电子器件失效机理及数理模型、高密度封装电路失效机理及数理模型、真空电子器件失效机理及数理模型等。

• 606 0_ |a 电子元件 |A Dian Zi Yuan Jian |x 可靠性 |x 研究

• 606 0_ |a 电子器件 |A Dian Zi Qi Jian |x 可靠性 |x 研究

• 690 __ |a TN6 |v 5

• 701 _0 |a 恩云飞 |4 编著 |A en yun fei

• 701 _0 |a 谢少锋 |4 编著 |A xie shao feng

• 701 _0 |a 何小琦 |4 编著 |A he xiao qi

• 801 _0 |a CN |b DQNU |c 20170504

• 905 __ |a DQNU |d TN6/E07 |s 3