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• 000 01992nam2 2200445 4500

• 000 0000251564

• 001 0000200936

• 005 20100422170405.0

• 010 __ |a 978-7-111-29641-6 |d CNY98.00

• 100 __ |a 20100907d2010 em y0chiy50 ea

• 101 1_ |a chi |c eng

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a ak z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 全面的功能验证 |A quan mian de gong neng yan zheng |e 完整的工业流程 |f (美)Bruce Wile，(美)John C. Goss，(美)Wolfgang Roesner著 |g 沈海华，乐翔译

• 210 __ |a 北京 |c 机械工业出版社 |d 2010

• 215 __ |a 487页 |c 图 |d 24cm

• 225 2_ |a 国际信息工程先进技术译丛

• 306 __ |a 本书中文简体字翻译版由机械工业出版社与Elsevier(Singapore)Pte Ltd.合作出版

• 312 __ |a 封面英文题名：Comprehensive functional verification: the complete industry cycle

• 314 __ |a 责任者Wile规范汉译姓：怀尔；责任者Goss规范汉译姓：戈斯

• 320 __ |a 本书第482-487页附有书目

• 330 __ |a 本书分为5个部分。第1部分的内容是功能验证概述，包括概念背景、验证计划、验证策略和一些基本练习；第2部分和第3部分关注两个最主要的功能验证方法：基于模拟的验证方法和形式验证方法；第4部分把注意力集中在验证周期的后期阶段，包括回归测试和“逃逸”错误分析，以及一些高级的验证技术；第5部分，是一些验证实例研究的集合。

• 461 _0 |1 2001 |a 国际信息工程先进技术译丛

• 510 1_ |a Comprehensive functional verification |e the complete industry cycle |z eng

• 517 1_ |a 完整的工业流程 |A wan zheng de gong ye liu cheng

• 606 0_ |a 集成电路 |x 芯片 |x 设计

• 690 __ |a TN402 |v 4

• 701 _0 |c (美) |a 戈斯 |A ge si |c (Goss, John C.) |4 著

• 701 _1 |c (美) |a Roesner |b Wolfgang |4 著

• 701 _0 |c (美) |a 怀尔 |A huai er |c (Wile, Bruce) |4 著

• 702 _0 |a 乐翔 |A le xiang |4 译

• 702 _0 |a 沈海华 |A shen hai hua |4 译

• 801 _0 |a CN |b CEPC |c 20100907

• 905 __ |a DQNU |d TN402/H80

• 909 __ |a 00768560 |b 平装 |f TN402/H80 |x ZRKX |e 001 |j 01

• 909 __ |a 00768561 |b 平装 |f TN402/H80 |x ZRKX |e 001 |j 01

• 909 __ |a 00768559 |b 平装 |f TN402/H80 |x YBS |e 001 |j 01

• 991 __012010367913

• 995 __ |a DQNU |b 00768559-61 |f TN402/H80 |s