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• 200 1_ |a 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 |9 shu zi ji cheng dian lu yu qian ru shi nei he xi tong ke ce shi xing she ji |e [英文版] |f 美)Alfred L.Crouch著

• 205 __ |a 影印版

• 210 __ |a 北京 |c 中国电力出版社 |d 2004

• 215 __ |a 28,348页 |d 24cm

• 225 2_ |a 原版风暴系列

• 305 __ |a 本书影印版由Pearson Education授权中国电力出版社出版

• 330 __ |a 本书主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试；重用设计，包括重用向量和重用核心；用VSIA和IEEE P 1500标准处理测试问题。

• 461 _0 |1 2001 |a 原版风暴系列

• 510 1_ |a Design-for -Test for Digital IC’s and Embedded Core Systems |z eng

• 606 0_ |a 数字集成电路 |x 测试 |x 设计 |j 英文

• 606 0_ |a 程序设计 |x 测试 |j 英文

• 690 __ |a TN431.2 |v 4

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• 701 _1 |a Crouch |b Alfred L. |4 著

• 801 _0 |a CN |b 021001 |c 20040216

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