机读格式显示(MARC)

• 000 01174nam2 2200349 4500

• 000 0000214047

• 001 0000166482

• 005 20090213124159.0

• 009 CRLN2007092897

• 010 __ |a 978-7-03-019638-5 |d CNY49.90

• 035 __ |a (021002)012007035911

• 100 __ |a 20090213d em y0chiy0110 ea

• 101 0_ |a chi

• 102 __ |a CN |b 110000

• 105 __ |a y z 000yy

• 106 __ |a r

• 200 1_ |a 电子元器件可靠性设计 |9 dian zi yuan qi jian ke kao xing she ji |f 王蕴辉，于宗光，孙再吉主编

• 210 __ |a 北京 |c 科学出版社 |d 2007

• 215 __ |a 514页 |d 24cm

• 225 2_ |a 电子可靠性工程技术实践丛书

• 330 __ |a 本书内容有：单片集成电路可靠性设计，混合集成电路可靠性设计与控制，半导体分立器件可靠性设计，连接器可靠性设计，继电器可靠性设计等。

• 461 _0 |1 2001 |a 电子可靠性工程技术实践丛书

• 606 0_ |a 电子元件 |x 可靠性 |x 设计

• 690 __ |a TN602 |v 4

• 701 _0 |a 孙再吉 |9 sun zai ji |4 主编

• 701 _0 |a 王蕴辉 |9 wang yun hui |4 主编

• 701 _0 |a 于宗光 |9 yu zong guang |4 主编

• 801 _0 |a CN |b |c 20090213

• 905 __ |a DQNU |d TN602/W47

• 991 __

• 995 __ |a ST |f TN602/W47 |s 5

• 999 __ |t C |A wanglei |a 20090213 12:41:06 |M wanglei |m 20090213 12:41:59 |G wanglei |g 20090213 12:42:3