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检索到 1 条 题名=Design-for -Test for Digital IC’s and Embedded Core Systems 的结果    

 


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  1. 中文图书1.数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计:[英文版] TN431.2/A06

    馆藏复本：1
    可借复本：1     美)Alfred L.Crouch著
    中国电力出版社 2004
    (0) 馆藏

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