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中文图书1.半导体器件参数快速综合测试仪 TN304.07/L95
馆藏复本：5
可借复本：5 罗静成著
人民邮电出版社 1980.4
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中文图书2.半导体的检测与分析 TN304.07/X92
馆藏复本：3
可借复本：3 许振嘉主编
科学出版社 2007
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