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中文图书1.可靠性物理 TN6/E07
馆藏复本:3
可借复本:2 恩云飞,谢少锋,何小琦编著
电子工业出版社 2015
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中文图书2.ESD揭秘:静电防护原理和典型应用:from semiconductor manufacturing to product use TN430.2/W69
馆藏复本:3
可借复本:2 (美)Steven H. Voldman著
机械工业出版社 2014
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中文图书3.电子元器件失效分析与典型案例 TN601/K76
馆藏复本:5
可借复本:5 孔学东,恩云飞主编
国防工业出版社 2006
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