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MARC状态:已编 文献类型:规范文档 浏览次数:18

题名/责任者:
高速数字接口与光电测试/李凯著
出版发行项:
北京:清华大学出版社,2022
ISBN及定价:
978-7-302-59040-8/CNY178.00
载体形态项:
425页:彩图;26cm
并列正题名:
High speed digital interface and photoelectric test
个人责任者:
李凯 (通信工程) 著
学科主题:
数字接口-接口技术
学科主题:
光电检测-测试技术
中图法分类号:
TN919.5
中图法分类号:
TN206
提要文摘附注:
本书从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行了生动讲解,同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中前沿的接口技术,对其标准演变、测试方法等做了详细介绍。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN919.5/L27 01314168   语言、自然科学阅览室     可借 语言、自然科学阅览室
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