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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:14

题名/责任者:
可靠性物理/姚立真编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2004
ISBN及定价:
7-121-00209-4/CNY88.00
载体形态项:
21,669页:图;24cm
丛编项:
电子元器件质量与可靠性技术丛书
个人责任者:
姚立真 编著
学科主题:
电子元件-可靠性
中图法分类号:
TN606
提要文摘附注:
全书分为四部分。阐述了电子元器件失效分析中的理论基础;论述了失效的物理模型;介绍了元器件静电放电失效的原理和防护,元器件的辐射效应和抗辐射加固技术等内容。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN606/Y33 30300945   机电工程学院     可借
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