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题名/责任者:

表面分析(XPS和AES)引论/(英)John F. Watts，(英)John Wolstenholme原著 吴正龙译

出版发行项:

上海:华东理工大学出版社,2008

ISBN及定价:

978-7-5628-2226-4/CNY28.00

载体形态项:

144页:图;24cm

并列正题名:

Introduction to surface analysis by XPS and AES

丛编项:

当代材料科学与工程译丛

个人责任者:

(英) Watts John F. 原著

个人责任者:

(英) Wolstenholme John 原著

个人次要责任者:

吴正龙 译

学科主题:

表面分析

中图法分类号:

O655.9

版本附注:

由Wiley公司授权出版

提要文摘附注:

本书讲述了现代电子能谱中的单色化XPS、小面积XPS（SAXPS)、成像XPS、XPS深度剖析、场发射AES/SAM等功能的分析技术，以及在冶金、腐蚀、陶瓷、催化剂、微电子半导体材料等领域中的应用。

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