MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:11
- 题名/责任者:
- 集成电路系统设计、验证与测试/(美)Louis Scheffer, (美)Luciano Lavagno, (美)Grant Martin著 陈力颖,王猛译
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2008
- ISBN及定价:
- 978-7-03-021490-4/CNY62.00
- 载体形态项:
- 14,475页;26cm
- 丛编项:
- 集成电路EDA技术
- 个人责任者:
- (美) 马丁 (Martin, Grant) 著
- 个人责任者:
- (美) 谢佛尔 (Scheffer, Louis) 著
- 个人责任者:
- (美) 拉瓦尼奥 (Lavagno, Luciano) 著
- 个人次要责任者:
- 陈力颖 译
- 个人次要责任者:
- 王猛 译
- 学科主题:
- 集成电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN402
- 相关题名附注:
- 英文原名:EDA for IC System Design, Verfication and Testing
- 提要文摘附注:
- 本书涵盖了IC设计过程和EDA,系统级设计方法与工具,系统级规范与建模语言,SoC的IP设计,MPSoC设计的性能验证方法,处理器建模与设计工具,嵌入式软件建模与设计等内容。
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索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
TN402/X46#1 | 00645495 | 语言、自然科学阅览室 | 可借 | |
TN402/X46#1 | 00645497 | 语言、自然科学阅览室 | 可借 | |
TN402/X46#1 | 00645496 | 样本书阅览室 | 可借 |
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