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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:12

题名/责任者:
可靠性物理/恩云飞,谢少锋,何小琦编著
出版发行项:
北京:电子工业出版社,2015
ISBN及定价:
978-7-121-27232-5/CNY88.00
载体形态项:
16,426页:图;24cm
丛编项:
可靠性技术丛书
个人责任者:
恩云飞 编著
个人责任者:
谢少锋 编著
个人责任者:
何小琦 编著
学科主题:
电子元件-可靠性-研究
学科主题:
电子器件-可靠性-研究
中图法分类号:
TN6
题名责任附注:
工业和信息化部电子第五研究所组编
提要文摘附注:
本书共13章,内容包括:可靠性物理的基本概念、失效物理模型,微电子器件失效机理及数理模型、微波器件失效机理及数理模型、光电子器件失效机理及数理模型、高密度封装电路失效机理及数理模型、真空电子器件失效机理及数理模型等。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN6/E07 01173237 2015 - 语言、自然科学阅览室     可借 语言、自然科学阅览室
TN6/E07 01173238 2015 - 语言、自然科学阅览室     可借 语言、自然科学阅览室
TN6/E07 01173236 2015 - 样本书阅览室     非可借 样本书阅览室
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