MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：6
- 题名/责任者:
- 电子元器件可靠性设计/王蕴辉，于宗光，孙再吉主编
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2007
- ISBN及定价:
- 978-7-03-019638-5/CNY49.90
- 载体形态项:
- 514页;24cm
- 丛编项:
- 电子可靠性工程技术实践丛书
- 个人责任者:
- 孙再吉 主编
- 个人责任者:
- 王蕴辉 主编
- 个人责任者:
- 于宗光 主编
- 学科主题:
- 电子元件-可靠性-设计
- 中图法分类号:
- TN602
- 提要文摘附注:
- 本书内容有：单片集成电路可靠性设计，混合集成电路可靠性设计与控制，半导体分立器件可靠性设计，连接器可靠性设计，继电器可靠性设计等。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN602/W47 | 00645350 |  语言、自然科学阅览室
|
可借 | |
| TN602/W47 | 00645351 | 语言、自然科学阅览室
|
可借 | |
| TN602/W47 | 00645353 | 语言、自然科学阅览室
|
可借 | |
| TN602/W47 | 00645354 | 语言、自然科学阅览室
|
可借 | |
| TN602/W47 | 00645352 | 样本书阅览室
|
可借 |
显示全部馆藏信息