MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:14
- 题名/责任者:
- 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计:[英文版]/ 美)Alfred L.Crouch著
- 版本说明:
- 影印版
- 出版发行项:
- 北京:中国电力出版社,2004
- ISBN及定价:
- 7-5083-1904-4/CNY48.00
- 载体形态项:
- 28,348页;24cm
- 丛编项:
- 原版风暴系列
- 个人责任者:
- Crouch Alfred L. 著
- 学科主题:
- 数字集成电路-测试-设计-英文
- 学科主题:
- 程序设计-测试-英文
- 中图法分类号:
- TN431.2
- 中图法分类号:
- TP311.1
- 版本附注:
- 本书影印版由Pearson Education授权中国电力出版社出版
- 提要文摘附注:
- 本书主要内容包括:设计核心,关注嵌入核心和嵌入存储器;系统集成和超大规模集成电路的设计问题;AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计;内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST;虚拟测试套接字和隔离测试;重用设计,包括重用向量和重用核心;用VSIA和IEEE P 1500标准处理测试问题。
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