MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：15
- 题名/责任者:
- 可靠性物理/恩云飞，谢少锋，何小琦编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2015
- ISBN及定价:
- 978-7-121-27232-5/CNY88.00
- 载体形态项:
- 16,426页:图;24cm
- 丛编项:
- 可靠性技术丛书
- 个人责任者:
- 恩云飞 编著
- 个人责任者:
- 谢少锋 编著
- 个人责任者:
- 何小琦 编著
- 学科主题:
- 电子元件-可靠性-研究
- 学科主题:
- 电子器件-可靠性-研究
- 中图法分类号:
- TN6
- 题名责任附注:
- 工业和信息化部电子第五研究所组编
- 提要文摘附注:
- 本书共13章，内容包括：可靠性物理的基本概念、失效物理模型，微电子器件失效机理及数理模型、微波器件失效机理及数理模型、光电子器件失效机理及数理模型、高密度封装电路失效机理及数理模型、真空电子器件失效机理及数理模型等。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN6/E07 | 01173237 | 2015 - |  语言、自然科学阅览室
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可借 | 语言、自然科学阅览室 |
| TN6/E07 | 01173238 | 2015 - | 语言、自然科学阅览室
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可借 | 语言、自然科学阅览室 |
| TN6/E07 | 01173236 | 2015 - | 样本书阅览室
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非可借 | 样本书阅览室 |
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