MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：15
- 题名/责任者:
- 半导体器件参数快速综合测试仪/罗静成著
- 出版发行项:
- 北京:人民邮电出版社,1980.4
- ISBN及定价:
- /￥1.05
- 载体形态项:
- 369页;32开
- 个人责任者:
- 罗静成 著
- 中图法分类号:
- TN304.07
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN304.07/L95 | 00104573 |  语言、自然科学阅览室
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可借 | |
| TN304.07/L95 | 00104577 | 语言、自然科学阅览室
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| TN304.07/L95 | 00104581 | 语言、自然科学阅览室
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| TN304.07/L95 | 00104585 | 语言、自然科学阅览室
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| TN304.07/L95 | 00104589 | 样本书阅览室
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