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题名/责任者:

薄膜结构X射线表征/麦振洪等著

版本说明:

2版

出版发行项:

北京:科学出版社,2015

ISBN及定价:

978-7-03-044195-9/CNY148.00

载体形态项:

15,404页:图;24cm

丛编项:

现代应用物理学丛书

个人责任者:

麦振洪 著

学科主题:

X射线衍射分析-薄膜结构

中图法分类号:

TU330.1

提要文摘附注:

本书系统介绍应用X射线技术表征薄膜和多层膜微结构的多种基本实验装置、实验数据的分析理论以及各种薄膜和多层膜微结构表征的实例等内容。

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