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MARC状态:已编 文献类型:规范文档 浏览次数:22

题名/责任者:
电子器件和集成电路单粒子效应/曹洲,安恒,高欣编著
出版发行项:
北京:北京理工大学出版社有限责任公司,2021
ISBN及定价:
978-7-5682-9656-4 精装/CNY138.00
载体形态项:
458页:图;24cm
并列正题名:
Single event effects of electronic devices and integrated circuits
丛编项:
空间科学与技术研究丛书
个人责任者:
曹洲 (1963~) 编著
个人责任者:
安恒 (1982~) 编著
个人责任者:
高欣 (1972~) 编著
学科主题:
电子器件-单粒子态-研究
学科主题:
集成电路-单粒子态-研究
中图法分类号:
TN103
一般附注:
国之重器出版工程 国防现代化建设
一般附注:
国家出版基金项目 “十三五”国家重点出版物出版规划项目
提要文摘附注:
本书阐述了电子器件和集成电路空间单粒子效应的基本概念和原理,试验测试的基础理论与方法,单粒子效应对电子系统的影响及防护设计的基本方法,空间单粒子翻转率计算方法及不确定性分析等方面的内容。
全部MARC细节信息>>
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TN103/C11 01301480   语言、自然科学阅览室     可借 语言、自然科学阅览室
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