- 题名/责任者:
- 可靠性物理/姚立真编著
- 出版发行项:
- 北京:电子工业出版社,2004
- ISBN及定价:
- 7-121-00209-4/CNY88.00
- 载体形态项:
- 21,669页:图;24cm
- 丛编项:
- 电子元器件质量与可靠性技术丛书
- 个人责任者:
- 姚立真 编著
- 学科主题:
- 电子元件-可靠性
- 中图法分类号:
- TN606
- 提要文摘附注:
- 全书分为四部分。阐述了电子元器件失效分析中的理论基础；论述了失效的物理模型；介绍了元器件静电放电失效的原理和防护，元器件的辐射效应和抗辐射加固技术等内容。
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