MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：15
- 题名/责任者:
- 硅锗的性质/（德）Erich Kasper主编 余金中译
- 出版发行项:
- 北京:国防工业出版社,2002
- ISBN及定价:
- 7-118-02883-5 精装/CNY24.00
- 载体形态项:
- 250页;21cm
- 个人责任者:
- Kasper Erich 主编
- 个人次要责任者:
- 余金中 译
- 学科主题:
- 硅-元素半导体-性质
- 学科主题:
- 锗-元素半导体-性质
- 中图法分类号:
- TN303
- 提要文摘附注:
- 本书共七章，第一章综述了SiGe应变层系统的一些总体性质；第二章至第六章给出了应变的和弛豫的SiGe合金的具体材料性质，论述了SiGe材料的结晶学、异质结构、热学性质、力学和晶格振动、能带结构、输运特性、磁学特性、表面性质、光吸收和光谱等方面的内容；第七章介绍了一些代表性的SiGe/Si器件的结构和特性。
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