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MARC状态:已编 文献类型:中文图书 浏览次数:18

题名/责任者:
ESD揭秘:静电防护原理和典型应用/(美)Steven H. Voldman著 来萍,恩云飞,肖庆中等译
出版发行项:
北京:机械工业出版社,2014
ISBN及定价:
978-7-111-46365-8/CNY59.00
载体形态项:
14,159页:图;24cm
并列正题名:
ESD basics:from semiconductor manufacturing to product use
其它题名:
静电防护原理和典型应用
丛编项:
电子与嵌入式系统设计译丛
个人责任者:
(美) 沃尔德曼 (Voldman, Steven H.) 著
个人次要责任者:
来萍
个人次要责任者:
恩云飞
个人次要责任者:
肖庆中
学科主题:
芯片-静电防护-设计
中图法分类号:
TN430.2
版本附注:
由约翰-威利父子公司授权出版
提要文摘附注:
本书介绍了静电放电(ESD)、过电应力(EOS)、电磁干扰(EMI)、电磁兼容(EMC)和闩锁效应的基础,对从半导体制造环境到最终系统组装进行了概述。
全部MARC细节信息>>
索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态 还书位置
TN430.2/W69 01167369 2014 - 语言、自然科学阅览室     可借 语言、自然科学阅览室
TN430.2/W69 01167370 2014 - 语言、自然科学阅览室     可借 语言、自然科学阅览室
TN430.2/W69 01167368 2014 - 样本书阅览室     非可借 样本书阅览室
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