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MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：9

题名/责任者:
电子元器件失效分析与典型案例/孔学东，恩云飞主编
出版发行项:
北京:国防工业出版社,2006
ISBN及定价:
7-118-04619-1/CNY150.00
载体形态项:
12,260页:图;26cm
个人责任者:
孔学东 主编
个人责任者:
恩云飞 主编
学科主题:
电子元件-失效分析
学科主题:
电子器件-失效分析
中图法分类号:
TN601
提要文摘附注:
本书系统地介绍了电子元器件失效分析技术及典型分析案例。全书分为基础篇和案例篇。内容包括：失效分析程序、失效分析技术、集成电路的失效分析典型案例等。
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索书号 条码号 年卷期 馆藏地 书刊状态
TN601/K76 00578539   语言、自然科学阅览室     可借
TN601/K76 00578540   语言、自然科学阅览室     可借
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TN601/K76 00578542   语言、自然科学阅览室     可借
TN601/K76 00578538   样本书阅览室     可借
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