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题名/责任者:

数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计:[英文版]/ 美)Alfred L.Crouch著

版本说明:

影印版

出版发行项:

北京:中国电力出版社,2004

ISBN及定价:

7-5083-1904-4/CNY48.00

载体形态项:

28,348页;24cm

并列正题名:

Design-for -Test for Digital IC’s and Embedded Core Systems

丛编项:

原版风暴系列

个人责任者:

Crouch Alfred L. 著

学科主题:

数字集成电路-测试-设计-英文

学科主题:

程序设计-测试-英文

中图法分类号:

TN431.2

中图法分类号:

TP311.1

版本附注:

本书影印版由Pearson Education授权中国电力出版社出版

提要文摘附注:

本书主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试；重用设计，包括重用向量和重用核心；用VSIA和IEEE P 1500标准处理测试问题。

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