MARC状态：已编 文献类型：中文图书 浏览次数：18
- 题名/责任者:
- 光电子器件微波封装和测试/祝宁华著
- 出版发行项:
- 北京:科学出版社,2011
- ISBN及定价:
- 978-7-03-033004-8 精装/CNY96.00
- 载体形态项:
- xvii, 433页:图;24cm
- 丛编项:
- 半导体科学与技术丛书
- 个人责任者:
- 祝宁华 著
- 学科主题:
- 光电器件-微波技术-封装工艺
- 学科主题:
- 光电器件-微波测量
- 中图法分类号:
- TN15
- 书目附注:
- 有书目和索引
- 提要文摘附注:
- 本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果, 系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术, 先进性、学术性和实用性兼备。
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| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 |
| TN15/Z89 | 01068894 |  语言、自然科学阅览室
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可借 | |
| TN15/Z89 | 01068895 | 语言、自然科学阅览室
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可借 | |
| TN15/Z89 | 01068893 | 样本书阅览室
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可借 |
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