MARC状态：已编 文献类型：规范文档 浏览次数：22
- 题名/责任者:
- 一板成功:高速电路研发与设计典型故障案例解析/张晶威编著
- 出版发行项:
- 北京:清华大学出版社,2022
- ISBN及定价:
- 978-7-302-58923-5/CNY39.00
- 载体形态项:
- 127页:图;24cm
- 其它题名:
- 高速电路研发与设计典型故障案例解析
- 个人责任者:
- 张晶威 编著
- 学科主题:
- 印刷电路-电路设计
- 中图法分类号:
- TN410.2
- 提要文摘附注:
- 本书从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案，内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。
全部MARC细节信息>>
| 索书号 | 条码号 | 年卷期 | 馆藏地 | 书刊状态 | 还书位置 |
| TN410.2/Z15 | 01305705 |  语言、自然科学阅览室
|
可借 | 语言、自然科学阅览室 | |
| TN410.2/Z15 | 01305706 | 语言、自然科学阅览室
|
可借 | 语言、自然科学阅览室 | |
| TN410.2/Z15 | 01305704 | 样本书阅览室
|
非可借 | 样本书阅览室 |
显示全部馆藏信息